一种TDLAS中激光器线宽对气体吸收谱线影响的分析及仿真方法

一种TDLAS中激光器线宽对气体吸收谱线影响的分析及仿真方法

技术类型 : 专利

专利所属地 :中国

公开号 :CN201911270678.0

技术成熟度 :正在研发

转让方式 :技术转让

交易价格:面议

应用领域 : 研究和试验发展

技术领域 :光传输系统技术

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成果概况
简介
本发明公开了一种TDLAS中激光器线宽对气体吸收谱线影响的分析及仿真方法,该方法主要包括分析方法和仿真方法两部分,分析方法包括激光器线型的理论分析,从理论上明确在实际系统检测中激光器线宽对检测气体浓度有影响,仿真方法采用Simulink软件,进行检测系统激光器线宽的仿真建模。本方法以TDLAS技术为理论基础,结合谐波检测技术,实现乙烯浓度检测,与现有技术相比,本发明采用了理论分析和Simulink软件进行仿真建模的方式,明确了检测中激光器线宽对气体吸收谱线的影响,从而减少对实验结果的误差,提高了整体检测装置的准确性。
专利基本信息
专利名称 一种TDLAS中激光器线宽对气体吸收谱线影响的分析及仿真方法
专利状态 授权 公开号 CN201911270678.0
申请号 CN112945903A 专利申请日期 2019-12-11
专利授权日期 2022-12-09 专利权届满日 2042-12-09
专利所属地 中国 专利类型 发明
发明人 天津科技大学;
权利人 张锐,王芳,郭洪飞,王燕,郗风江,敖乐根,杨贺轩
专利摘要 本发明公开了一种TDLAS中激光器线宽对气体吸收谱线影响的分析及仿真方法,该方法主要包括分析方法和仿真方法两部分,分析方法包括激光器线型的理论分析,从理论上明确在实际系统检测中激光器线宽对检测气体浓度有影响,仿真方法采用Simulink软件,进行检测系统激光器线宽的仿真建模。本方法以TDLAS技术为理论基础,结合谐波检测技术,实现乙烯浓度检测,与现有技术相比,本发明采用了理论分析和Simulink软件进行仿真建模的方式,明确了检测中激光器线宽对气体吸收谱线的影响,从而减少对实验结果的误差,提高了整体检测装置的准确性。