一种检测DBP的分子印迹传感器的制备方法

一种检测DBP的分子印迹传感器的制备方法

技术类型 : 专利

专利所属地 :中国

公开号 :CN202210735025.0

技术成熟度 :正在研发

转让方式 :技术转让

交易价格:面议

应用领域 : 专用仪器仪表制造

技术领域 :新材料

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成果概况
简介
本发明提供的一种检测DBP的分子印迹传感器的制备方法,包括:使用多壁碳纳米管和AuNPs对电极表面进行修饰;以DBP为模板分子,基于二氧化硅纳米材料,结合功能单体、丙烯酸酯类交联剂和偶氮类引发剂采用热聚合方法获取分子印迹聚合物材料;采用滴涂法将所述聚合物去除DBP后修饰至处理后的玻碳电极表面,得到分子印迹传感器。本发明通过采用表面分子印迹技术,基于DBP和纳米材料制备印迹聚合物材料,其印迹位点位于纳米材料的表层,提高了目标分子的识别响应速度,同时对识别目标分子具有专一性,且该分子印迹传感器具有结构稳定、机械强度高,易获得、成本低的优点。
专利基本信息
专利名称 一种检测DBP的分子印迹传感器的制备方法
专利状态 实审 公开号 CN202210735025.0
申请号 CN115184422A 专利申请日期 2022-06-22
专利授权日期 0001-01-01 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 实用新型
发明人 天津科技大学
权利人 潘明飞,王珊,王硕
专利摘要 本发明提供的一种检测DBP的分子印迹传感器的制备方法,包括:使用多壁碳纳米管和AuNPs对电极表面进行修饰;以DBP为模板分子,基于二氧化硅纳米材料,结合功能单体、丙烯酸酯类交联剂和偶氮类引发剂采用热聚合方法获取分子印迹聚合物材料;采用滴涂法将所述聚合物去除DBP后修饰至处理后的玻碳电极表面,得到分子印迹传感器。本发明通过采用表面分子印迹技术,基于DBP和纳米材料制备印迹聚合物材料,其印迹位点位于纳米材料的表层,提高了目标分子的识别响应速度,同时对识别目标分子具有专一性,且该分子印迹传感器具有结构稳定、机械强度高,易获得、成本低的优点。