技术类型 : 专利
专利所属地 :中国
公开号 :CN201810520510.X
技术成熟度 :正在研发
转让方式 :技术转让
交易价格:面议
应用领域 : 文物及非物质文化遗产保护
技术领域 :认证授权技术
专利名称 | 基于卷积神经网络的壁画线描图生成算法 | ||
专利状态 | 其他 | 公开号 | CN201810520510.X |
申请号 | CN108921862A | 专利申请日期 | 2018-05-28 |
专利授权日期 | 0001-01-01 | 专利权届满日 | - |
专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 实用新型 |
发明人 | 天津科技大学 | ||
权利人 | 孙迪,张璞,张传雷,赵婷婷,李会彬 | ||
专利摘要 | 本发明涉及一种基于卷积神经网络的壁画线描图生成算法,包括以下步骤:收集壁画和线描数据,建立壁画#线描数据集;基于VGG16模型搭建深层卷积神经网络模型;使用制作好的壁画#线描数据集通过梯度下降算法进行模型训练;利用验证集进行验证,如果在验证集上损失下降,则保存模型;在此期间不断在验证集上进行调优,并使用最优模型在测试集上进行测试。本发明设计合理,其通过建立壁画#线描数据集、基于VGG16进行改进并搭建深层卷积神经网络模型、利用梯度下降算法进行模型训练、调整学习率等方式进行验证调优,最后测试输出高质量的线描图,并且不需要进一步的边界连接过程,处理速度很快。 |