技术类型 : 专利
专利所属地 :中国
公开号 :CN201621139586.0
技术成熟度 :正在研发
转让方式 :技术转让
交易价格:面议
应用领域 : 通用仪器仪表制造
技术领域 :半导体新材料制备与应用技术
专利名称 | 非金属基体表面涂层厚度检测装置 | ||
专利状态 | 授权 | 公开号 | CN201621139586.0 |
申请号 | - | 专利申请日期 | 2016-10-20 |
专利授权日期 | 2017-07-07 | 专利权届满日 | 2037-07-07 |
专利所属地 | 中国 | 专利类型 | 发明 |
发明人 | 天津科技大学 | ||
权利人 | 陈建平,周增瑞,梁湘鹏,闫传滨,赵海军,李瑞,杜厚栋,申振腾 | ||
专利摘要 | 本实用新型公开了一种非金属基体表面涂层厚度检测装置,包括套筒,固定设置在套筒顶部的电机,设置在所述的套筒内并受所述的电机驱动上下移动的底座,固定设置在底座下端部的测量头,定位在测量头和底座间的压力传感器。本实用新型用于非金属基体表面涂层厚度检测,可测量毫米级别的涂层,测量精度可达0.1mm,具有检测周期短、检测装置便携、检测结果可靠性高等诸多优点,能实现涂层厚度的高效无损检测,对非金属基体涂层厚度检测技术的发展具有推动作用。而且本实用新型装置的设计成本低,在实际检测工作中的工序少,可降低工作人员的劳动强度,提高检测工作的安全性,具有良好的推广和应用价值。 |