一种用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络及训练方法

一种用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络及训练方法

技术类型 : 专利

专利所属地 :中国

公开号 :CN202311296587.0

技术成熟度 :正在研发

转让方式 :技术转让

交易价格:面议

应用领域 : 通用仪器仪表制造

技术领域 :电子信息

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成果概况
简介
本发明提供了一种用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络及训练方法,其中,所述用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络,包括:特征提取网络层、多尺度融合网络器和预测网络层,所述特征提取网络层用于提取图像特征;所述多尺度融合网络器用于对所述图像特征进行融合,所述预测网络层用于针对所述多尺度融合网络器输出的融合特征进行多种采样率特征输出的预测框。实现了深层网络对浅层网络中的特征信息的充分利用;多尺度融合层采用了最大池化方式进行多尺度融合,增加了特征通道数量,提高了对缺陷特征的提取能力。并且通过增加预测器,提升了对小目标缺陷的识别能力。通过训练获得了神经网络模型,利用该模型能够进行PCB表面缺陷的缺陷检测。
专利基本信息
专利名称 一种用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络及训练方法
专利状态 其他 公开号 CN202311296587.0
申请号 CN117350966A 专利申请日期 2023-10-09
专利授权日期 0001-01-01 专利权届满日 -
专利所属地 中国 专利类型 发明
发明人 天津科技大学
权利人 刘振豪,严凡坤,陈永利,李好
专利摘要 本发明提供了一种用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络及训练方法,其中,所述用于印刷电路板表面缺陷检测的神经网络,包括:特征提取网络层、多尺度融合网络器和预测网络层,所述特征提取网络层用于提取图像特征;所述多尺度融合网络器用于对所述图像特征进行融合,所述预测网络层用于针对所述多尺度融合网络器输出的融合特征进行多种采样率特征输出的预测框。实现了深层网络对浅层网络中的特征信息的充分利用;多尺度融合层采用了最大池化方式进行多尺度融合,增加了特征通道数量,提高了对缺陷特征的提取能力。并且通过增加预测器,提升了对小目标缺陷的识别能力。通过训练获得了神经网络模型,利用该模型能够进行PCB表面缺陷的缺陷检测。